泓格科技榮獲第一屆全國「由田機器視覺獎」影像體競技賽第二名

日期:10/31/2006

 

【台北訊】泓格科技榮獲自動光學檢測設備聯盟(AOIEA)承辦之第一屆全國”由田機器視覺獎” (UTMVP)影像體競技賽第二名。
 

為促進國內「機器視覺」領域之學術與實務並重以及研發與創意應用,自動光學檢測設備聯盟(AOIEA)與由田新技股份有限公司特別在今年設立第一屆全國「由田機器視覺獎(UTMVP)」,開放產學研各界高手挑戰總獎金80萬。

泓格科技自行開發之影像檢測演算法,由泓格研二處處長陳文煜及研一處李家銘組隊報名參加第一屆全國”由田機器視覺獎“中的”外型瑕疵檢測“之解題競賽,競賽以20張電路樣圖作為瑕疵檢測項目,評分標準以精確率為優先再以檢測速度等項目綜合評比,泓格科技僅以3秒鐘即完成所有檢測且檢測精度達100%,從全國36隊參賽隊伍中脫穎而出獲得第二名。

泓格科技近年來積極開發整合量測與自動化控制技術的改進與創新,其自行開發之影像檢測軟體產品,預計於2007年推出,泓格擁有之技術能量與研發成果,帶來全新的自動化檢測國際視野,預期將引爆AOI設備合作商機。

   
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